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文献综述
一．研究高压对CL-20晶体结构的影响的目的含能材料是含有大量化学能的一类化合物，目前广泛应用于推进剂、炸药和烟火，这类材料通常具有高密度、高爆轰压力和高爆轰速度的特点。
近年来，共晶含能材料的研究已经成为一个热点方向，最为一种新型的高能量密度材料，共晶含能材料已引起人们的广泛关注[1,2]。
本课题已经发现CL-20是一种具有高能量密度等出色性能的共晶含能材料，CL20因其高能的特点，是迄今为止已经研制成功并可用于工业化生产的综合性能最好的单质含能材料[3]。
CL-20的合成和热力学性质已经在以前的研究中有过报道，但是仍然有一些基本问题没有得到解决，例如尚未研究高压对CL-20晶体结构的影响。
所以，高压对CL-20晶体结构的影响是值得深入研究的一个课题，对于该课题的研究具有一定的现实意义[4]。
二．已掌握的文献资料显示，理论界主要从以下几个方面展开了相关研究：1.外压与ETT性能之间的关系1)晶格参数、键长和键角的变化结果表明ETT在高压下的变化是各向异性的。
2)在190、220和270 GPa的压力下ETT晶体发生了3次结构转变。
第一次结构转变形成新的共价键CS-O8，第二次结构转变形成新的共价键C4-O2。
值得注意的是，在200 GPa时，C4靠近O11形成共价键C4-O11，但在270 GPa时，C4远离O11且接近O2，形成新的共价键C4-O2，实现晶体结构的第三次转变。
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