毕业论文课题相关文献综述
一、课题背景电力电子器件工作在开关状态，电力电子器件自身的功率损耗远大于信息电子器件而导致因损耗散发的热量致使器件温度过高而损坏。
这是因为电力电子器件在导通或者阻断状态下，并不是理想的短路或断路。
导通时器件上有一定的通态压降，阻断时器件上有微小的断态漏电电流流过，尽管其数值很小，但分别与数值较大的通态电流和断态电压相互作用，就形成了电力电子器件的通态损耗和断态损耗。
此外，还有在电力电子器件由断态转为通态（开通过程）或由通态转为断态（关断过程）的转换过程中产生的损耗，即开通损耗和关断损耗，总称开关损耗。
对于某些器件来讲，驱动电路向其注入的功率也是造成器件发热而产生损耗的原因之一。
通常来讲，除一些特殊的器件外，电力电子器件的断态漏电流都极其微小，因而通态损耗是电力电子器件功率损耗的主要原因。
当器件的开关频率较高时，开关损耗会随之增大而可能成为器件功率损耗的主要因素。
尤其现代电力电子装置其开关器件大部分都工作在高频开关状态。
功率器件在开通时，其电流由零逐步上升，而电压逐步下降。
电流上升和电压下降有一重叠过程，于是产生了功率损耗，即开通损耗；功率器件在关断时，也有一个电压上升、电流下降的重叠过程，此时产生的损耗即关断损耗。
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