毕业论文课题相关文献综述
文 献 综 述
1.物位测量技术简介
近年来，电子型物位仪表发展很快，微电子技术的渗入促进了新型物位测量技术的发展，在连续测量和定点测量领域开发了许多新型物位测量仪表，并使物位测量仪表产品结构产生很大变化。在近年新发展的物位测量技术中，非接触测量物位的TOF（Timeof flight 行程时间或传播时间）测量技术是发展最快、应用最广的一种物位测量技术。下面简单介绍几种物位测量技术的原理。
(1)电容式物位计的工作原理
电容式物位计是在容器中建立一个电容,此电容的一极是浸没在容器中的杆状探头,另一极为接地金属板(通常为容器壁),如图1(a)所示,设以空气为介质的电容为C1,以被测物料为介质的电容为C2,则电极间的电容为:C=C1 C2，如果被测介质为导体,则须在探头上加一层绝缘层,如图1(b)所示,设被测物料上部以绝缘层为介质的电容为C1a,以空气为介质的电容为C1b,被测物料部分以绝缘层为介质的电容为C2a,则电极间的电容为:
C=(C1a*C1b)/（C1a C1b） C2a
经推导可得两电极间的电容C与被测物位高度h的关系为：C=C0 k*h，式中C0和k是与介电常数、容器结构有关的常数。当物位变化时,被测介质对探头的浸没高度h发生变化,从而使电容C发生变化,通过测量电容C得到物位高度h。
图1 电容式物位测量原理
(2)TOF物位测量技术原理
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