二维半导体Bi2O2Se的生长及性能研究文献综述

 2022-01-05 20:01:15

全文总字数:6213字

文献综述

文 献 综 述摘要:近年来,二维晶体材料因其优越的电气特性,成为半导体材料研究的新方向。

原子薄的Bi2O2Se已成为二维材料中的一个新成员,具有超高的载流子迁移率和优异的空气稳定性。

本文介绍了二维半导体Bi2O2Se在生长、制备、性能领域的研究进展。

索引术语--光电晶体管,二维材料,半导体,Bi2O2Se1.纳米硒氧化铋(Bi2O2Se)的介绍Bi2O2Se是一种具有四方晶体结构和空间群对称I4/mm(a=b=3.88A,c=12.16A)的层状材料)。

其晶体结构由强键合[Bi2O2]n2n和[Se]n2n层交替叠加组成,它们之间具有弱静电相互作用。

Bi2O2Se已经成为一种具有优异电子性能的很有前途的新半导体。

它的层状性质使它成为制造低到几个原子层(甚至是单层)的电子器件的理想选择,这在最近的一项研究中得到了证明。

基于Bi2O2Se的顶门控场效应晶体管器件具有优异的半导体器件性能,包括高载流子迁移率(1.9K时~28900cm2/V和室温下~450cm2/V)和具有几乎理想的次阈值摆动(~65mV/12月)的>106的优越电流开/关比。

此外,Bi2O2Se的中度带隙(~0.8eV)使其装置适合于室温操作,同时只需要相对较低的操作电压[例如,与具有1.17-eV带隙的Si相比]。

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